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適用于透射電子顯微鏡（TEM）、掃描電鏡/聚焦離子束（SEM/FIB）截面分析、原子探針（atom probe）、X射線斷層掃描（X-ray tomography）甚至微機(jī)械測試（micromechanical testing）的復(fù)雜工作流程